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互换性与测量技术基础

互换性与测量技术基础

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商品描述
图书简介
作者:高丽,于涛,杨俊茹主编
出版社:北京理工大学出版社有限责任公司
出版日期:2018
ISBN:978-7-5682-5243-0
本书包括绪论,测量技术基础,孔、轴公差与配合及其尺寸检测,几何公差及其检测,表面粗糙度及其检测,滚动轴承与孔、轴结合的互换性,渐开线圆柱齿轮公差与检测,常用连接件的公差与检测,圆锥公差与检测,尺寸链等共10章。