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抗辐射集成电路设计理论与方法
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图书简介
作者:高武编著
出版社:清华大学出版社
出版日期:2018
ISBN:978-7-302-50529-7
本书首先介绍辐射环境、辐射相互作用物理过程及若干种辐射效应;接着详细介绍集成电路抗辐射加固设计方法学,包括单粒子闩锁加固策略及测试、辐射加固器件的SPICE模型、抗辐射单元库设计、自动综合的抗辐射数字电路设计、模拟和混合信号电路加固设计等;最后介绍集成电路辐射效应仿真、单粒子效应的脉冲激光测试原理和辐射加固保障测试。
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